應(yīng)用領(lǐng)域

Application area

聯(lián)系我們

contact us


上海測宇科學(xué)儀器科技有限公司

地 址:上海市嘉定區(qū)真南路4929古漪商務(wù)大廈603室

聯(lián)系人:孟先生 13585785050

總 機(jī):021-65142150,65029510

傳 真:021-65029530

郵 編:200092

E-mail:738304336@qq.com  mengjiaming@rigaku.com.cn

節(jié)假日請撥打: 13585785050

您當(dāng)前位置:網(wǎng)站首頁 > 應(yīng)用領(lǐng)域

高分辨XRD

  X射線衍射及小角度和大角度X射線掃描技術(shù)是分析各種材料包括液體,金屬,礦物質(zhì),高分子材料,催化劑,塑料,陶瓷,醫(yī)藥,薄膜涂層,和半導(dǎo)體等高科技無損方法。這種技術(shù)成為材料判定,質(zhì)量控制不可缺少的部分。應(yīng)用包括相分析,晶體結(jié)構(gòu)和殘余應(yīng)力,納米材料等。理學(xué)提供一系列技術(shù)先進(jìn),性價(jià)比高的X射線衍射儀。

系統(tǒng)

  • 智能XRD:   SmartLab?
  • 高性能XRD: Ultima IV