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上海測(cè)宇科學(xué)儀器科技有限公司
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晶體取向
單晶成為研究眾多科技產(chǎn)品的基礎(chǔ)。單晶的電子特性是半導(dǎo)體工業(yè)的關(guān)鍵而單晶的磁學(xué)性質(zhì)是磁性存貯設(shè)備性能的關(guān)鍵。單晶的機(jī)械和化學(xué)特性是材料科學(xué)進(jìn)步的基礎(chǔ)。大多情況下，單晶的特性不僅在于晶體性質(zhì)和質(zhì)量，更依賴(lài)于其取向。單晶取向測(cè)定是單晶應(yīng)用技術(shù)中必不可少的一步。目前，X射線(xiàn)衍射儀成為確定晶體取向常用的方法。
系統(tǒng)
-
智能XRD: SmartLab?
-
高性能XRD: Ultima IV
單晶成為研究眾多科技產(chǎn)品的基礎(chǔ)。單晶的電子特性是半導(dǎo)體工業(yè)的關(guān)鍵而單晶的磁學(xué)性質(zhì)是磁性存貯設(shè)備性能的關(guān)鍵。單晶的機(jī)械和化學(xué)特性是材料科學(xué)進(jìn)步的基礎(chǔ)。大多情況下，單晶的特性不僅在于晶體性質(zhì)和質(zhì)量，更依賴(lài)于其取向。單晶取向測(cè)定是單晶應(yīng)用技術(shù)中必不可少的一步。目前，X射線(xiàn)衍射儀成為確定晶體取向常用的方法。
系統(tǒng)
- 智能XRD: SmartLab?
- 高性能XRD: Ultima IV
